1.本技术涉及显示器测试技术领域，具体而言，涉及一种显示器批量老化的测试系统。
背景技术：2.老化测试是显示器生产过程中必不可少的一步，也是显示器质量控制的一个重要环节。在老化后显示器的效能得到提升，并有助于后期使用的效能稳定。
3.在现有技术中，显示器老化测试一般是针对单个显示器进行单独测试，无法对多个显示器进行同步测试，即便进行多个显示器同步老化测试也难以根据每个显示器在老化测试中可能出现不同的测试状况，针对每个显示器进行单独控制。
技术实现要素：4.为了克服现有技术中的上述不足，本技术提供一种显示器批量老化的测试系统。
5.本技术实施例提供一种显示器批量老化的测试系统，所述测试系统包括：控制单元、地址位扩展单元、开关与复位单元及多个显示器老化测试单元；
6.每个显示器老化测试单元包括数字电位器子单元、电源配置子单元以及电流检测子单元，所述每个显示器老化测试单元用于对一个显示器进行老化测试，所述数字电位器子单元与所述电源配置子单元连接，所述数字电位器子单元通过调节电压输出档位控制所述电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号，所述电流检测子单元用于检测所述显示器的老化电流；
7.所述控制单元通过所述地址位扩展单元与所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接，所述控制单元通过所述地址位扩展单元控制所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位；
8.所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接，所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元通信，以获得所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流。
9.在一种可能的实现方式中，所述控制单元还用于将所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流与预先设定的老化电流范围进行比较，在存在目标显示器老化测试单元中的显示器的老化电流不在所述预先设定的老化电流范围时，控制所述目标显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位，以改变所述目标显示器老化测试单元中的电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号。
10.在一种可能的实现方式中，所述测试系统还包括接口单元；
11.所述接口单元包括usb接口子单元和接口转换子单元，所述接口单元用于连接上位机和所述控制单元，以实现所述上位机和控制单元之间的通信；
12.所述usb接口子单元经由所述接口转换子单元与所述控制单元连接，所述usb接口
子单元用于接收所述上位机的控制指令，并为所述接口转换子单元提供工作电源；所述接口转换子单元用于将所述控制指令转换为所述控制单元能识别的串口控制信号，其中，所述控制指令包括对任意一个显示器老化测试单元中进行老化测试的显示器进行亮度调整的控制指令。
13.在一种可能的实现方式中，所述测试系统还包括电源供给单元；
14.所述电源供给单元包括相互连接的电源接口子单元和电源调整子单元，所述电源接口子单元用于连接外部电源，所述电源调整子单元用于调整电源电压；
15.所述电源调整子单元分别与所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元连接，并分别为所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元提供工作电源。
16.在一种可能的实现方式中，所述地址位扩展单元的数量为多个，所述控制单元包括多组地址控制端口，每个所述地址位扩展单元包括一组第一地址端口和多组第二地址端口；
17.所述控制单元的每组地址控制端口与一对应的所述地址位扩展单元的第一地址端口连接，通过所述地址位扩展单元将一组地址端口扩展为多组第二地址端口，并将多个所述地址位扩展单元的第二地址端口分配给每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元，以使所述控制单元对每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元进行控制。
18.在一种可能的实现方式中，所述开关与复位单元的数量为多个，所述控制单元包括一组通信端口，每个所述开关与复位单元包括一组第一通信端口和多组第二通信端口；
19.所述控制单元的通信端口与所述开关与复位单元的第一通信端口连接，通过所述开关与复位单元转换为多组第二通信端口，每组第二通信端口与划分为同一组的显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接。
20.在一种可能的实现方式中，所述数字电位器子单元包括多路复用器、多路挡位输入支路以及挡位调整电阻，所述多路复用器包括挡位选择端、输出端以及分别与每路挡位输入支路对应的挡位输入端，每路挡位输入支路中包括支路电阻；
21.所述多路复用器的挡位选择端经由所述地址位扩展单元与所述控制单元连接，由所述控制单元通过所述挡位选择端从所述多路挡位输入支路选择相应的挡位输入支路与对应的挡位输入端导通；
22.所述多路复用器的输出端与所述电源配置子单元的控制端连接，所述挡位调整电阻的一端与所述多路复用器的输出端连接，所述挡位调整电阻的另一端与所述多路挡位输入支路分别连接，导通的挡位输入支路和所述多路复用器串联后与所述挡位调整电阻并联。
23.在一种可能的实现方式中，所述电源配置子单元的输出端与老化测试支路连接，所述老化测试支路包括串联的第一电阻、第二电阻、第三电阻以及显示器；
24.所述电流检测子单元包括第一输入端和第二输入端，所述电流检测子单元的第一输入端连接所述第二电阻的一端，所述电流检测子单元的第二输入端连接所述第二电阻的
另一端，所述电流检测子单元用于检测所述老化测试支路的老化电流；
25.所述电流检测子单元还包括通信端口，所述电流检测子单元的通信端口与所述开关与复位单元的第二通信端口连接，经由所述开关与复位单元将所述老化电流反馈给所述控制单元。
26.在一种可能的实现方式中，所述电流检测子单元还包括两个显示器标识端口；
27.所述每个显示器标识端口包括多种连接状态，通过两个显示器标识端口的不同连接状态的组合表示同一组显示器老化测试单元中不同的显示器。
28.在一种可能的实现方式中，所述显示器老化测试单元的个数为81个，所述地址位扩展单元的数量为6个，所述开关与复位单元的数量为2个；
29.所述控制单元包括6组地址控制端口，每个所述地址位扩展单元包括3组第二地址端口；所述开关与复位单元提供9组第二通信端口，所述显示器老化测试单元被划分为9组。
30.基于上述任意一个方面，本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统中包括多个显示器老化测试单元，控制单元通过地址位扩展单元与每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接，用于控制每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位以改变显示器的老化电流；控制单元通过开关与复位单元与每个显示器老化测试单元中的的电流检测子单元连接，用于接收每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流；控制单元可以根据获取的每个显示器的老化电流通过控制数字电位器子单元调整显示器的老化电流，使显示器的老化电流维持在老化测试的要求范围内。相对于现有技术，可以在批量老化测试中根据每个显示器的不同测试情况进行相应的测试信号的调整，提高老化测试的自动化程度，并节省测试时间提高测试效率。
附图说明
31.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要调用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。
32.图1为本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统的一种方框结构示意图；
33.图2为本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统的另一种方框结构示意图；
34.图3为本技术实施例提供的用于实现接口转换子单元功能的芯片端口示意图；
35.图4为本技术实施例提供的控制单元的一种可能的芯片端口示意图；
36.图5为本技术实施例提供的地址位扩展单元的一种可能的芯片端口示意图；
37.图6为本技术实施例提供的开关与复位单元的芯片端口示意图；
38.图7为本技术实施例提供的显示器老化测试单元的电路示意图。
具体实施方式
39.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本技术中附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本技术的保护范围。另外，应当理解，示意性的附
图并未按实物比例绘制。本技术中使用的流程图示出了根据本技术实施例的一些实施例实现的操作。应该理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本技术内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其它操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
40.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
41.因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
42.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
43.请参照图1，图1示例了本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统的一种方框结构示意图。在本技术实施例中，显示器批量老化的测试系统1可以包括控制单元10、地址位扩展单元20、开关与复位单元30及多个显示器老化测试单元40。
44.在本技术实施例中，每个显示器老化测试单元40可以包括数字电位器子单元410、电源配置子单元420及电流检测子单元430，其中，每个显示器老化测试单元40用于对一个显示器440进行老化测试。在显示器老化测试单元40中，数字电位器子单元410与电源配置子单元420连接，数字电位器子单元410通过调节电压输出档位控制电源配置子单元420提供给显示器440的电压信号，电流检测子单元430用于检测显示器440的老化电流。
45.控制单元10可以通过地址位扩展单元20与每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410连接，控制单元10可以通过地址位扩展单元20控制每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410的电压输出档位。
46.控制单元10可以通过开关与复位单元30与每个显示器老化测试单元40中的电流检测子单元430连接，控制单元10可以通过开关与复位单元30与每个显示器老化测试单元40中的电流检测子单元430通信，以获得每个显示器老化测试单元40中对应显示器440的老化电流。
47.在上述系统中，控制单元10通过地址位扩展单元20与每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410连接，以通过控制每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410的电压输出档位以改变显示器440的老化电流；控制单元10还可以通过开关与复位单元30与每个显示器老化测试单元40中的的电流检测子单元430连接，用于接收每个显示器老化测试单元40中对应显示器440的老化电流。如此，控制单元10可以根据获取的每个显示器440的老化电流通过控制数字电位器子单元410调整显示器440的老化电流，使显示器440的老化电流维持在老化测试的要求范围内。
48.进一步地，在本技术实施例中，控制单元10还可以用于将每个显示器老化测试单元40中对应显示器440的老化电流与预先设定的老化电流范围进行比较，在存在目标显示器老化测试单元40中的显示器440的老化电流不在预先设定的老化电流范围时，控制目标
显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410的电压输出档位，以改变目标显示器老化测试单元40中的电源配置子单元420提供给显示器440的电压信号，从而使显示器440的老化电流维持在老化测试的要求范围内。示例性地，在显示器440的老化电流低于预设的老化电流范围的最小值(比如，7ma)时，可以通过提高数字电位器子单元410的电压输出档位增大电源配置子单元420提供的电压，以增大流经老化测试的显示器440的老化电流；在显示器440的老化电流高于预设的老化电流范围的最大值(比如，9ma)时，可以通过降低数字电位器子单元410的电压输出档位来降低电源配置子单元420提供的电压，以减小流经老化测试的显示器440的老化电流。
49.进一步地，在本技术实施例中，请参照图2，图2示例了本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统1的另一种方框结构示意图。显示器批量老化的测试系统1还可以包括接口单元50。
50.接口单元50可以包括usb接口子单元510和接口转换子单元520，接口单元50用于连接上位机和控制单元10，以实现上位机和控制单元10之间的通信，在本实施例中，上位机可以是外部的计算机设备。
51.usb接口子单元510通过接口转换子单元520与控制单元10连接，usb接口子单元510用于接收上位机的控制指令，并可以为接口转换子单元520提供工作电源。接口转换子单元520可以用于将控制指令转换为控制单元510能识别的串口控制信号，其中，所述控制指令包括对任意一个显示器老化测试单元40中进行老化测试的显示器440进行亮度调整的控制指令。示例性地，在本实施例中，usb接口子单元510可以提供3～5.8v的直流电源作为接口转换子单元520的工作电源，为了确保信号传输的完整性，usb接口子单元510中还可以包括阻抗匹配电路。接口转换子单元520可以将usb接口子单元510传送的usb数据转换为ttl电平的异步收发传输器串口信号，并发送给控制单元10。请参照图3，图3示例了一种用于实现接口转换子单元520相应功能的芯片端口示意图，如图所示，芯片的端口6、端口7、端口8、端口9由usb接口子单元510提供电信号(usbvdd或vcc_usb)；端口4和端口5连接usb接口子单元510的通信端口(usb_d+，usb_d-)，并与usb接口子单元510实现通信；端口23、端口24、端口25及端口25可以分别与控制单元10的(txd端口、rxd端口、rts端口及cts端口)连接，以实现其与控制单元10之间的通信。
52.进一步地，在本技术实施例中，请再次参照图2，显示器批量老化的测试系统1还可以包括电源供给单元60。
53.电源供给单元60可以包括相互连接的电源接口子单元610和电源调整子单元620，电源接口子单元610可以用于连接外部电源，电源调整子单元610可以用于调整电源电压。电源调整子单元620分别与控制单元10、地址位扩展单元20、开关与复位单元30以及每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410、电源配置子单元420和电流检测子单元430连接，并分别为控制单元10、地址位扩展单元20、开关与复位单元30以及每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410、电源配置子单元420和电流检测子单元430提供工作电源。示例性地，电源接口子单元610连接的外部电源可以为7-15v，通过电源调整子单元620转换调整为1.2v-5.5v供给给其他单元。
54.进一步地，在本技术实施例中，地址位扩展单元20的数量可以为多个，控制单元10包括多组地址控制端口，每个地址位扩展单元20包括一组第一地址端口和多组第二地址端
口。控制单元10的每组地址控制端口与一对应的地址位扩展单元20的第一地址端口连接，通过地址位扩展单元20将一组地址端口扩展为多组第二地址端口，并将多个地址位扩展单元20的第二地址端口分配给每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410，以使控制单元10对每个显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410进行控制。
55.下面结合图4和图5进行说明，其中图4示例了控制单元10的一种可能的芯片端口示意图，图5示例了地址位扩展单元20的一种可能的芯片端口示意图，其中，在控制单元10中，端口pa0、端口pa1、端口pa2、端口pb0、端口pb1、端口pb2、端口pa3、端口pb3、端口pc0、端口pc1、端口pc2及端口pc3可以两个端口组合形成一组地址控制端口，比如，端口pa0和端口pb0组合、端口pa2和端口pb2组合、端口pc0和端口pa1组合、端口pc2和端口pa3组合、端口pb1和端口pc1组合及端口pb3和端口pc3组合。在地址位扩展单元20中，比如图5所示，地址位扩展单元20的第一地址端口与控制单元10的端口pa2和端口pb2连接，经由地址位扩展单元20扩展后可以输出多组第二地址端口，其中图中端口pa21、端口pa22和端口pa23的其中之一与端口pb21、端口pb22和端口pb23的其中之一可以组成三组第二地址端口。通过上述地址扩展可以满足所有显示器老化测试单元40中的数字电位器子单元410所需的地址数据，为每个数字电位器子单元410分配一个单独的地址数据，以实现对每个电位器子单元410的单独控制。在本实施例中，控制单元10可以通过端口30和端口31连接的晶振为其提供时钟信号，另外控制单元10的端口19～端口23可以连接oled指示灯，通过oled指示灯的亮灭状态示意控制单元10的各项功能是否正常。
56.进一步地，在本技术实施例中，开关与复位单元30的数量可以为多个，控制单元10可以包括一组通信端口，每个开关与复位单元30可以包括一组第一通信端口和多组第二通信端口。控制单元10的通信端口与开关与复位单元30的第一通信端口连接，通过开关与复位单元30转换为多组第二通信端口，每组第二通信端口与划分为同一组的显示器老化测试单元40中的电流检测子单元430连接。
57.示例性地，请参照图6，图6示例了开关与复位单元30的芯片端口示意图，下面结合图4和图6进行介绍，控制单元10包括一组通信端口(sda端口和scl端口)，开关与复位单元30的一组第一通信端口(图6中第22端口和第23端口)分别连接控制单元10的scl端口和sda端口，通过开关与复位单元30可以输出6组第二通信端口(图6中的sda1端口和scl1端口，sda2端口和scl2端口，sda3端口和scl3端口，sda4端口和scl4端口，sda5端口和scl5端口，sda6端口和scl6端口)。通过每一组第二通信端口可以和划为同一组的显示器老化测试单元40中的电流检测子单元430连接，比如，在同一组的显示器老化测试单元40的数量为9个时，每一组第二通信端口可以与9个显示器老化测试单元40中的电流检测子单元430连接。
58.进一步地，请参照图7，图7示意了显示器老化测试单元40的电路示意图，其中，数字电位器子单元40可以包括多路复用器u19、多路挡位输入支路(电阻r39～电阻r46所在支路)以及挡位调整电阻r47，多路复用器u19包括挡位选择端(端口9～端口11)、输出端(端口7)以及分别与每路挡位输入支路对应的挡位输入端(端口1、端口2、端口4、端口5及端口12～端口15)，每路挡位输入支路中包括支路电阻(电阻r39～电阻r46)。多路复用器u19的挡位选择端经由所述地址位扩展单元20与控制单元10连接，由控制单元10通过挡位选择端从多路挡位输入支路选择相应的挡位输入支路与对应的挡位输入端导通；
59.多路复用器u19的输出端与电源配置子单元420的控制端(图中u18的端口4)连接，
挡位调整电阻r47的一端与多路复用器u19的输出端(u19中端口7)连接，挡位调整电阻r47的另一端与多路挡位输入支路分别连接，导通的挡位输入支路和多路复用器u19串联后与挡位调整电阻r47并联。
60.进一步地，在本技术实施例中，请再次参照图7，电源配置子单元430的输出端(图中u18中端口1～3)与老化测试支路连接，其中老化测试支路包括串联的第一电阻r48、第二电阻r52、第三电阻r53以及显示器，电流检测子单元430可以包括第一输入端(图中u20的端口1)和第二输入端(图中u20的端口2)，电流检测子单元430的第一输入端连接第二电阻r52的一端，电流检测子单元430的第二输入端连接第二电阻r52的另一端，电流检测子单元430用于检测老化测试支路的老化电流。电流检测子单元430还可以包括通信端口(图中u20的端口5和端口6)，电流检测子单元430的通信端口与开关与复位单元30的第二通信端口连接，经由开关与复位单元30将老化电流反馈给所述控制单元10。
61.在本技术实施例中，电流检测子单元40还包括两个显示器标识端口(图中u20中的端口7和端口8)，每个显示器标识端口包括多种连接状态(端口7可以有接地、接高电平、接端口scl01及接端口sda01四种状态)，通过两个显示器标识端口的不同连接状态的组合表示同一组显示器老化测试单元中不同的显示器，即可以通过16种组合状态表示组内不多于该数量的显示器。
62.可以理解地，在本技术实施例中，可以根据需要对不同数量的显示器进行老化测试。优选地，显示器老化测试单元40的个数为81个，地址位扩展单元20的数量为6个，开关与复位单元30的数量为2个。控制单元10可以包括6组地址控制端口，每个地址位扩展单元20可以包括3组第二地址端口，开关与复位单元30可以提供9组第二通信端口，显示器老化测试单元40可以被划分为9组，每组有9个显示器老化测试单元40。
63.本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统还可以对不同类型的显示器进行老化测试，只需对应更换与显示器适配的接口或通过拨码开关切换即可，通过兼容不同类型的显示区老化测试，可以扩展测试系统用于产品测试的适用范围，增加测试系统的竞争力。
64.综上所述，本技术实施例提供的显示器批量老化的测试系统，在显示器批量老化的测试系统中，控制单元通过地址位扩展单元与每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接，用于控制每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位以改变显示器的老化电流；控制单元通过开关与复位单元与每个显示器老化测试单元中的的电流检测子单元连接，用于接收每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流；控制单元可以根据获取的每个显示器的老化电流通过控制数字电位器子单元调整显示器的老化电流，使显示器的老化电流维持在老化测试的要求范围内。相对于现有技术，可以在批量老化测试中根据每个显示器的不同测试情况进行相应的测试信号的调整，提高老化测试的自动化程度，并节省测试时间提高测试效率。
65.以上所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制本技术的保护范围，而仅仅是表示本技术的选定实施例。基于此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。此外，基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下可获得的所有其它
实施例，都应属于本技术保护的范围。
技术特征：1.一种显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：控制单元、地址位扩展单元、开关与复位单元及多个显示器老化测试单元；每个显示器老化测试单元包括数字电位器子单元、电源配置子单元以及电流检测子单元，所述每个显示器老化测试单元用于对一个显示器进行老化测试，所述数字电位器子单元与所述电源配置子单元连接，所述数字电位器子单元通过调节电压输出档位控制所述电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号，所述电流检测子单元用于检测所述显示器的老化电流；所述控制单元通过所述地址位扩展单元与所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接，所述控制单元通过所述地址位扩展单元控制所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位；所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接，所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元通信，以获得所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流。2.如权利要求1所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述控制单元还用于将所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流与预先设定的老化电流范围进行比较，在存在目标显示器老化测试单元中的显示器的老化电流不在所述预先设定的老化电流范围时，控制所述目标显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位，以改变所述目标显示器老化测试单元中的电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号。3.如权利要求1所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括接口单元；所述接口单元包括usb接口子单元和接口转换子单元，所述接口单元用于连接上位机和所述控制单元，以实现所述上位机和控制单元之间的通信；所述usb接口子单元经由所述接口转换子单元与所述控制单元连接，所述usb接口子单元用于接收所述上位机的控制指令，并为所述接口转换子单元提供工作电源；所述接口转换子单元用于将所述控制指令转换为所述控制单元能识别的串口控制信号，其中，所述控制指令包括对任意一个显示器老化测试单元中进行老化测试的显示器进行亮度调整的控制指令。4.如权利要求3所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括电源供给单元；所述电源供给单元包括相互连接的电源接口子单元和电源调整子单元，所述电源接口子单元用于连接外部电源，所述电源调整子单元用于调整电源电压；所述电源调整子单元分别与所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元连接，并分别为所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元提供工作电源。5.如权利要求4所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述地址位扩展单元的数量为多个，所述控制单元包括多组地址控制端口，每个所述地址位扩展单元包括一组第一地址端口和多组第二地址端口；
所述控制单元的每组地址控制端口与一对应的所述地址位扩展单元的第一地址端口连接，通过所述地址位扩展单元将一组地址端口扩展为多组第二地址端口，并将多个所述地址位扩展单元的第二地址端口分配给每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元，以使所述控制单元对每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元进行控制。6.如权利要求5所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述开关与复位单元的数量为多个，所述控制单元包括一组通信端口，每个所述开关与复位单元包括一组第一通信端口和多组第二通信端口；所述控制单元的通信端口与所述开关与复位单元的第一通信端口连接，通过所述开关与复位单元转换为多组第二通信端口，每组第二通信端口与划分为同一组的显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接。7.如权利要求6所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述数字电位器子单元包括多路复用器、多路挡位输入支路以及挡位调整电阻，所述多路复用器包括挡位选择端、输出端以及分别与每路挡位输入支路对应的挡位输入端，每路挡位输入支路中包括支路电阻；所述多路复用器的挡位选择端经由所述地址位扩展单元与所述控制单元连接，由所述控制单元通过所述挡位选择端从所述多路挡位输入支路选择相应的挡位输入支路与对应的挡位输入端导通；所述多路复用器的输出端与所述电源配置子单元的控制端连接，所述挡位调整电阻的一端与所述多路复用器的输出端连接，所述挡位调整电阻的另一端与所述多路挡位输入支路分别连接，导通的挡位输入支路和所述多路复用器串联后与所述挡位调整电阻并联。8.如权利要求7所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述电源配置子单元的输出端与老化测试支路连接，所述老化测试支路包括串联的第一电阻、第二电阻、第三电阻以及显示器；所述电流检测子单元包括第一输入端和第二输入端，所述电流检测子单元的第一输入端连接所述第二电阻的一端，所述电流检测子单元的第二输入端连接所述第二电阻的另一端，所述电流检测子单元用于检测所述老化测试支路的老化电流；所述电流检测子单元还包括通信端口，所述电流检测子单元的通信端口与所述开关与复位单元的第二通信端口连接，经由所述开关与复位单元将所述老化电流反馈给所述控制单元。9.如权利要求8所述的显示器批量老化的测试系统，其特征在于，所述电流检测子单元还包括两个显示器标识端口；所述每个显示器标识端口包括多种连接状态，通过两个显示器标识端口的不同连接状态的组合表示同一组显示器老化测试单元中不同的显示器。10.如权利要求5-9中任意一项所述的显示器批量老化的测试系统，所述显示器老化测试单元的个数为81个，所述地址位扩展单元的数量为6个，所述开关与复位单元的数量为2个；所述控制单元包括6组地址控制端口，每个所述地址位扩展单元包括3组第二地址端口；所述开关与复位单元提供9组第二通信端口，所述显示器老化测试单元被划分为9组。
技术总结本申请实施例提供的显示器批量老化的测试系统，涉及显示器测试技术领域。在显示器批量老化的测试系统中，控制单元通过地址位扩展单元与每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接；控制单元通过开关与复位单元与每个显示器老化测试单元中的的电流检测子单元连接；控制单元可以根据获取的每个显示器的老化电流通过控制数字电位器子单元调整显示器的老化电流，使显示器的老化电流维持在老化测试的要求范围内。相对于现有技术，可以在批量老化测试中根据每个显示器的不同测试情况进行相应的测试信号的调整，提高老化测试的自动化程度，并节省测试时间提高测试效率。并节省测试时间提高测试效率。并节省测试时间提高测试效率。
技术研发人员：张皓 彭永棒 马银芳 王鑫鑫
受保护的技术使用者：无锡美科微电子技术有限公司
技术研发日：2022.05.12
技术公布日：2022/7/5
